飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 于 2016 年 3 月落戶北京科技大學(xué)。北京科技大學(xué)的用戶主要觀察各種合金材料中夾雜物相及其拉伸斷裂斷口形態(tài)，飛納臺(tái)式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 配備的背散射電子和二次電子探測(cè)器可滿足該用戶所有待觀測(cè)樣品的測(cè)試需求。觀察合金材料中夾雜物相， Phenom XL 的背散射電子探測(cè)器是不錯(cuò)的選擇，因?yàn)槭褂帽成⑸潆娮犹綔y(cè)器可以同時(shí)觀察樣品表面的形貌和成分信息，從而幫助用戶區(qū)分出夾雜物。當(dāng)觀察合金材料拉伸斷裂斷口形態(tài)時(shí)，可以使用 Phenom XL 的二次電子探測(cè)器，您將獲得清晰立體的斷口形態(tài)掃描電鏡圖像。Phenom XL 采用壽命為 1500 小時(shí)的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，可以顯著提高掃描電鏡圖像的分辨率，提供表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖片。
背散射電子像觀察鋁合金中各種夾雜物相
二次電子觀察鋁合金拉伸斷裂斷口
飛納電鏡操作簡易，非常適合沒有掃描電鏡操作經(jīng)驗(yàn)的用戶。自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)配合光學(xué)導(dǎo)航，僅需 15s 的抽真空時(shí)間，可以方便快速地檢測(cè)樣品。能譜 EDS *的反卷積擬合功能使得定性和定量更加準(zhǔn)確可信。飛納臺(tái)式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 必將有力推動(dòng)中國新金屬材料的發(fā)展。
鋁合金中的鐵析出相成分及含量判定
用戶認(rèn)真學(xué)習(xí)飛納電鏡
順利拿到培訓(xùn)合格證書
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