2016 年 7 月 24 日 - 2016 年 7 月 28 日，在美國俄亥俄州哥倫布會議中心舉行了一年一度的美國電鏡年會 M&M( MICROSCOPY & MICROANALYSIS)。飛納臺式掃描電鏡攜多款產品亮相美國 M&M 2016，并現場進行了樣品測試。
在這里，您不僅可以現場感受到飛納臺式掃描電鏡令人驚嘆的設計，小小的桌面式儀器竟然可以取代傳統落地式掃描電鏡的功能。您也可以進一步了解飛納臺式掃描電鏡采用的*的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，為您呈現表面細節豐富的掃描電鏡圖像。CeB6 燈絲可以穩定使用，壽命至少為 1500 小時，甚至可以達到 2000 個小時，燈絲使用時間記錄在飛納臺式掃描電鏡中，可以隨時查看。
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX 由 Karel van der Mast 教授帶領原飛利浦電鏡部門精英研發，將能譜探頭*集成在電鏡主機內，開創了電鏡能譜設計新理念。
飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 不僅可以拓展能譜功能，還可以增加了二次電子探測器，拉伸臺，壓力臺，大角度傾斜臺，高低溫樣品臺等。
飛納臺式掃描電鏡系列還有豐富的拓展功能，高倍超大視野圖像拼合，孔徑統計分析測量系統，纖維統計分析測量系統，顆粒統計分析測量系統，3D 粗糙度重建等。
飛納臺式掃描電鏡，帶給您不一樣的掃描電鏡體驗，，快速，強大。如果您想進一步了解飛納，請訪問飛納中國。
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